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 A new model for the field dependence of intrinsic and extrinsic time-dependent dielectric breakdown 本征和非本征时介电击穿场依赖性的新模型
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：R. Degraeve; J.-L. Ogier; R. Bellens; Ph. Roussel; G. Groeseneken; et al 出版日期：1998-01-01 |
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