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 High-Mobility Indium Oxide Thin Film Transistors with High Reliability 具有高可靠性的高迁移率氧化铟薄膜晶体管
相关领域
材料科学
可靠性（半导体）
薄膜晶体管
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期刊：Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society. CD-ROM) 作者：Prashant R. Ghediya; Yusaku Magari; Hikaru Sadahira; Takashi Endo; Mamoru Furuta; et al 出版日期：2024-11-22 |
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