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Measurement and Analysis of Statistical IC Operation Errors in a Memory Module Due to System-Level ESD Noise |
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期刊:IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 作者:Myungjoon Park; Junsik Park; Joungcheul Choi; Jinwoo Kim; Seonghoon Jeong; et al 出版日期:2018-05-18 |
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