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  Mapping cation diffusion through lattice defects in epitaxial oxide thin films on the water-soluble buffer layer Sr3Al2O6 using atomic resolution electron microscopy 用原子分辨电子显微镜绘制水溶性缓冲层Sr3Al2O6上外延氧化物薄膜晶格缺陷的阳离子扩散
相关领域
材料科学
氧化物
透射电子显微镜
扫描透射电子显微镜
薄膜
化学物理
电子能量损失谱
外延
高分辨率透射电子显微镜
异质结
晶体缺陷
图层（电子）
纳米技术
结晶学
化学工程
光电子学
化学
冶金
工程类
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期刊：APL Materials 作者：David J. Baek; Di Lu; Yasuyuki Hikita; Harold Y. Hwang; Lena F. Kourkoutis 出版日期：2017-09-01 |
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