| 标题 |
Study on epitaxial structure and substrate material variations for improving electrical reliability of the MSM AlGaN/GaN 2DEG varactors 提高MSM AlGaN/GaN 2DEG变容管电可靠性的外延结构和衬底材料变化研究
相关领域
材料科学
光电子学
静脉曲张
薄脆饼
氮化镓
蓝宝石
蓝宝石上的硅
基质(水族馆)
电容
外延
电子工程
图层(电子)
电极
硅
纳米技术
光学
工程类
物理化学
化学
地质学
激光器
物理
海洋学
绝缘体上的硅
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Yu-Li Hsieh; Hao-Zong Lo; Tzer‐En Nee; Chia-Ning Chang; Chenghao Yang 出版日期:2023-02-16 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|