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 Investigation of Silicon Aging Effects in Dopingless PUF for Reliable Security Solution 无掺杂PUF中硅老化效应的可靠安全解决方案研究
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期刊：Journal of Electronic Testing 作者：Meena Panchore; Chithraja Rajan; Jawar Singh 出版日期：2024-08-13 |
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