| 标题 |
 Characterizing the Intrinsic Background in XPS Using the Narrow-Shirley Approach 相关领域
物理
X射线光电子能谱
高斯分布
结合能
化学
螺旋钻
俄歇电子能谱
光谱学
工作（物理）
分子物理学
联轴节（管道）
原子物理学
价（化学）
电子结构
化学物理
光子能量
光电发射光谱学
计算物理学
光子
航程（航空）
统计物理学
电子
吸收（声学）
能量（信号处理）
信号（编程语言）
密度泛函理论
从头算量子化学方法
电子光谱学
机制（生物学）
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
cdercder
大力的冬萱
Copyright
liuzhuohao
Nole
行走的荷尔蒙
ale
arniu2008
Avalonx
sanvva
认真的不评
OK
无情的聪健
初景
Oracle
昏睡的蟠桃
学术文献互助
pluto
yjh123
皖公网安备34019202002308
