| 标题 |
Phase formation and stability of Ni silicide contacts - scaling to ultra-thin films |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology 作者:C. Detavernier; K. De Keyser; C. Van Bockstael; J. Jordan-Sweet; C. Lavoie 出版日期:2010 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)