Charge defects-induced electrical properties in bismuth ferrite bilayered thin films

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标题	Charge defects-induced electrical properties in bismuth ferrite bilayered thin films 铋铁氧体双层薄膜中电荷缺陷诱导的电学性质相关领域材料科学铋铁氧体铁电性电介质薄膜铋溅射铁氧体（磁铁）双层复合材料光电子学纳米技术多铁性冶金膜遗传学生物
网址	https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2013.03.042
DOI	10.1016/j.materresbull.2013.03.042 doi
其它	期刊：Materials Research Bulletin 作者：Jiagang Wu; Binyu Zhang; Xiaopeng Wang; John Wang; Jianguo Zhu; et al 出版日期：2013-04-10
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