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 Mechanism and impact of the double-hump substrate current in high-voltage double diffused drain MOS transistors 高压双扩散漏MOS晶体管中双峰衬底电流的机理及影响
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期刊：Acta Physica Sinica 作者：Jun Wang; Lei Wang; Yemin Dong; Xin Zou; Li Shao; et al 出版日期：2008-01-01 |
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