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 Splitting of X-ray diffraction peak in (Ge:SiO2)/SiO2 multilayers （Ge：SiO2）/SiO2多层中X射线衍射峰的分裂
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材料科学
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期刊：Solid State Communications 作者：J Li; Xinglong Wu; Dafeng Hu; Yimin Yang; Teng Qiu; et al 出版日期：2004-07-01 |
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