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Controllability of the Conductive Filament in Porous SiOx Memristors by Humidity-Mediated Silver Ion Migration |
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Haoze Li; Qin Gao; Juan Gao; Jiangshun Huang; Xueli Geng; et al 出版日期:2023-09-23 |
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