Spontaneous damage annealing reactions as a possible source of low energy excess in semiconductor detectors

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标题	Spontaneous damage annealing reactions as a possible source of low energy excess in semiconductor detectors 自发损伤退火反应作为半导体探测器中低能量过剩的可能来源
网址	https://doi.org/10.1103/p7s5-4qjw
DOI	10.1103/p7s5-4qjw doi
其它	期刊：Physical Review Materials 作者：K. Nordlund; Fanhao Kong; Matti Heikinheimo; Kimmo Tuominen; A. Kuronen 出版日期：2025-11-24
求助人	雪落你看不见在 2025-12-06 22:53:30 发布自四川，悬赏 10 积分
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