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Characterization of raw materials and self‐organized Bi2O3–Ag eutectic by X‐ray diffraction, scanning electron microscopy, and X‐ray photoelectron spectroscopy 相关领域
X射线光电子能谱
扫描电子显微镜
材料科学
分析化学(期刊)
共晶体系
球磨机
结晶学
冶金
化学工程
合金
复合材料
化学
色谱法
工程类
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期刊:Crystal Research and Technology 作者:M. Szubka; E. Talik; Katarzyna Sadecka; Dorota A. Pawlak; P. Zajdel; et al 出版日期:2017-06-26 |
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