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 High temperature accelerated degradation modelling and life span prediction of uni-traveling-carrier photodetectors based on Wiener process 基于Wiener过程的单游走载流子光电探测器高温加速退化模型及寿命预测
相关领域
降级（电信）
跨度（工程）
寿命
光电探测器
材料科学
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期刊：Physica Scripta 作者：Yuebo Liu; Jianting Lu; Zesheng Lv; Yuanyuan Zhu; Hao Niu; et al 出版日期：2025-07-02 |
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(2025-6-4)
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