| 标题 |
 Scanning chemical potential microscope: A new technique for atomic scale surface investigation 相关领域
热电效应
显微镜
材料科学
扫描隧道显微镜
电压
原子单位
扫描探针显微镜
光电子学
电化学扫描隧道显微镜
量子隧道
石墨
分析化学（期刊）
纳米技术
光学
化学
物理
扫描隧道光谱
冶金
热力学
量子力学
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena 作者：C. C. Williams; H. K. Wickramasinghe 出版日期：1991-03-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
freyaaaaa
null
星星亮
VDC
eric888
无极微光
jyy
且慢
Owen
ggp
Albert
活力的歌曲
czcmh
GingerF
彼得
早睡早起
GPTea
evz
loitinsuen
迷途小书童
淡淡土豆
香蕉觅云
herococa
皖公网安备34019202002308
