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Understanding the thickness-dependent effective lifetime of crystalline silicon passivated with a thin layer of intrinsic hydrogenated amorphous silicon using a nanometer-accurate wet-etching method
用纳米精确湿法刻蚀法研究用本征氢化非晶硅薄层钝化的晶体硅的有效寿命随厚度的变化
相关领域
钝化
材料科学
硅
蚀刻(微加工)
带隙
图层(电子)
非晶硅
载流子寿命
无定形固体
光电子学
纳米
晶体硅
复合材料
结晶学
化学
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其它 |
期刊:Journal of applied physics 作者:Dimitrios Deligiannis; Vasileios Marioleas; Ravi Vasudevan; C.C.G. Visser; R.A.C.M.M. van Swaaij; et al 出版日期:2016-06-17 |
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