A meta-heuristic search-based input vector control approach to co-optimize NBTI effect, PBTI effect, and leakage power simultaneously

负偏压温度不稳定性泄漏（经济）漏电功率电子工程工程类可靠性工程电气工程 MOSFET 晶体管电压宏观经济学经济

作者

Abhishek Bhattacharjee,Apangshu Das,Dheeraj Kumar Sahu,Sambhu Nath Pradhan,Kaushik Das

出处

期刊：Microelectronics Reliability [Elsevier BV]
日期：2023-04-10 卷期号：144: 114979-114979 被引量：4

标识

DOI：10.1016/j.microrel.2023.114979

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