Impact of hole trap-detrap mechanism on X-ray irradiation induced threshold voltage shift of radiation-hardened GAA TFET device

辐照 电场 俘获 氧化物 光电子学 阈值电压 电压 材料科学 辐射 偏压 载流子 栅氧化层 原子物理学 化学 电气工程 物理 光学 晶体管 核物理学 工程类 冶金 生物 量子力学 生态学
作者
Pankaj Kumar,Kalyan Koley,Subindu Kumar
出处
期刊:Microelectronics Reliability [Elsevier BV]
卷期号:145: 114980-114980 被引量:1
标识
DOI:10.1016/j.microrel.2023.114980

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