高电子迁移率晶体管
材料科学
光电子学
钻石
截止频率
电流密度
单晶
晶体管
电气工程
电压
结晶学
化学
复合材料
物理
量子力学
工程类
作者
M. Alomari,A. Dussaigne,D Martin,N. Grandjean,Christophe Gaquière,E. Kohn
出处
期刊:Electronics Letters
[Institution of Engineering and Technology]
日期:2010-02-18
卷期号:46 (4): 299-301
被引量:62
摘要
AlGaN/GaN HEMTs have been fabricated directly on (111) oriented single crystal diamond with 1.3 × 1013 cm−2 channel sheet charge density and 731 cm2/Vs mobility. 0.2 µm gate length devices showed 0.73 A/mm maximum drain current density and fT and fmax cutoff frequencies of 21 and 42 GHz.
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI