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作者
Hengbin Xu,Tao Liu,Hailian Li,Yong Liu,P. C. Shan,R. Wang,Weijin Kong,Minghao Zhang,Shuangqing Fan,Jie Su
出处
期刊:Materials horizons
[Royal Society of Chemistry]
日期:2024-01-01
卷期号:11 (21): 5429-5437
被引量:1
摘要
We report the artificial synaptic plasticity of BTO-based memristors and its application to artificial neural network computation by using swift heavy-ion irradiation as a tool for tuning the defects in the BTO layer.
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