Degradation prediction of IGBT module based on CNN-LSTM network

降级(电信) 绝缘栅双极晶体管 计算机科学 可靠性工程 人工智能 电气工程 工程类 电信 电压
作者
Liangjun Bai,Meng Huang,Shangzhi Pan,Kang Li,Xiaoming Zha
出处
期刊:Microelectronics Reliability [Elsevier]
卷期号:168: 115639-115639 被引量:7
标识
DOI:10.1016/j.microrel.2025.115639
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