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复合材料
作者
P.L. Desbène,Laurence Silly,J. P. Morizur,Michel Delamar
标识
DOI：10.1080/00032718608080871
摘要
Abstract The composition of humic and fulvic acids is examined using X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). The XPS results are compared to that of elemental analyses. XPS permits an easy detection of the different chemical forms of carbon and sulfur that exist in these complex compounds.
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