High-density integration of uniform sub-22 nm silicon nanowires for transparent thin film transistors on glass

材料科学 纳米线 薄膜晶体管 光电子学 晶体管 硅纳米线 薄膜 纳米技术 图层(电子) 电气工程 工程类 电压
作者
Wei Liao,Ying Zhang,Dianlun Li,Junzhuan Wang,Linwei Yu
出处
期刊:Applied Surface Science [Elsevier BV]
卷期号:679: 161213-161213 被引量:3
标识
DOI:10.1016/j.apsusc.2024.161213
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