可靠性（半导体）
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无线
作者
Attila Mekis,G. Armijo,J. Balardeta,Brian Chase,Kyung‐Bok Lee,A. Dahl,Peter De Dobbelaere,Yannick De Koninck,S. Denton,M. Eker,Sasan Fathpour,D. Foltz,Steffen Gloeckner,Ke Hon,S. Hovey,Stuart D. Jackson,W. Li,Y. Liang,M. Mack,G. Masini
标识
DOI：10.1364/iprsn.2017.iw3a.3
摘要
We assess the reliability of a complete silicon integrated photonics platform through a suite of reliability assurance and qualification tests. We demonstrate high reliability of each component of the silicon photonics optical transceiver.
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