绝缘体上的硅
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作者
Xu Wang,Wei Shi,Samantha M. Grist,Han Yun,Nicolas A. F. Jaeger,Lukas Chrostowski
标识
DOI：10.1109/pho.2011.6110834
摘要
We present an integrated transmission filter using phase-shifted Bragg gratings in silicon-on-insulator waveguides fabricated by deep-ultraviolet lithography. The measured resonant transmission band has a narrow linewidth of ~15 pm with a quality factor of ~100,000.
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