卤化物
扫描探针显微镜
原子力显微镜
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显微镜
扫描探针显微镜振动分析
扫描电容显微镜
材料科学
扫描共焦电子显微镜
光导原子力显微镜
导电原子力显微镜
化学
纳米技术
无机化学
光学
物理
作者
Shresth Gupta,Sayan Bhattacharyya
摘要
Scanning probe microscopy (SPM) and advanced atomic force microscopy (AFM ++ ) are essential for in situ and ex situ nanoscale investigations of the structural, optoelectronic, and photovoltaic properties of halide perovskite crystals and films.
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