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作者
Yuki Kajita,Hiroyuki Nishinaka,Masahiro Yoshimoto
出处
期刊：CrystEngComm
[Royal Society of Chemistry]
日期：2022-01-01
卷期号：24 (17): 3239-3245
被引量：8
摘要
The microstructure of a (001) κ-Ga 2 O 3 thin film grown on a (−201) β-Ga 2 O 3 substrate by mist CVD was investigated using automated crystal orientation mapping scanning transmission electron microscopy.
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