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zhzha辉
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2025-03-21 加入
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Is Leakage Power a Linear Function of Temperature?
4小时前
待确认
On the Interaction Between Hot Carrier Degradation (HCD) and Electrical-Induced Breakdown (EiB) in Advanced FinFET Nodes
1个月前
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谢谢您的帮助!
1个月前
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