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 Investigation of the Off-State Degradation in Advanced FinFET Technology—Part I: Experiments and Analysis 先进fin场效应晶体管技术中关断状态退化的研究-第一部分：实验与分析
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Zixuan Sun; Zirui Wang; Runsheng Wang; Lining Zhang; Jiayang Zhang; et al 出版日期：2023-02-01 |
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