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Impact of Mg out-diffusion and activation on the p-GaN gate HEMT device performance |
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期刊:2016 28th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) 作者:N. E. Posthuma; S. You; H. Liang; N. Ronchi; X. Kang; et al 出版日期:2016 |
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