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 Reliability assessment and failure mode analysis of MEMS accelerometers for space applications 相关领域
微电子机械系统
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：I. Marozau; Maxime Auchlin; Václav Pejchal; F. Souchon; D. Vogel; et al 出版日期：2018-09-01 |
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