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![]() 室温离子注入和加热离子注入对商用3.3 kV 4H-SiC功率MOSFET体二极管退化的比较
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期刊: 作者:Jiashu Qian; Tianshi Liu; Jake Soto; Mowafak Al‐Jassim; Robert E. Stahlbush; et al 出版日期:2022-11-07 |
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