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 Determination of the thickness and spectral dependence of the refractive index of Al x In1 − x Sb epitaxial layers from reflectance spectra 从反射光谱确定Al x In1-x Sb外延层的厚度和折射率的光谱依赖性
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期刊：Semiconductors 作者：O. S. Komkov; D. D. Firsov; А. Н. Семенов; B. Ya. Meltser; S. I. Troshkov; et al 出版日期：2013-02-01 |
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