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Spectroscopic signature of surface states and bunching of bulk subbands in topological insulator (Bi0.4Sb0.6)2Te3 thin films 拓扑绝缘体(Bi0.4Sb 0.6)2Te3薄膜表面态和体子带聚束的光谱特征
相关领域
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期刊:Physical review. B./Physical review. B 作者:Liesbeth Mulder; Carolien Castenmiller; Femke J. Witmans; Steef Smit; M. S. Golden; et al 出版日期:2022-01-14 |
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