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![]() 在HF/HNO_3和KOH溶液中深度湿法刻蚀对351nm熔石英光学器件抗激光损伤性能和表面质量的影响
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抛光
材料科学
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光电子学
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物理
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期刊:Optics Express 作者:Mathilde Pfiffer; Philippe Cormont; Evelyne Fargin; Bruno Bousquet; Marc Dussauze; et al 出版日期:2017-02-21 |
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