| 标题 |
[高分]
 Research on Threshold Evaluation of Nanosecond Laser-Induced Damage to CMOS Detectors Based on Multi-Data Fusion 相关领域
阈下传导
CMOS芯片
探测器
计算机科学
电子工程
融合
激光器
传感器融合
遮罩（插图）
支持向量机
辐射损伤
微电子
评价方法
人工智能
半导体器件建模
危害
工程类
雷达
硅光电倍增管
可靠性工程
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| 网址 | |
| DOI |
10.2139/ssrn.6868382
doi
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| 求助人 | |
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