ATPG scan logic failure analysis: a case study of logic ICs – fault isolation, defect mechanism identification and yield improvement

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标题	ATPG scan logic failure analysis: a case study of logic ICs – fault isolation, defect mechanism identification and yield improvement ATPG扫描逻辑失效分析&以逻辑集成电路为例&故障隔离、缺陷机理识别与成品率提高相关领域自动测试模式生成鉴定（生物学）产量（工程）计算机科学分离（微生物学）可靠性工程逻辑门失效机理工程类算法电气工程结构工程材料科学电子线路微生物学生物冶金植物
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2006.07.010
DOI	10.1016/j.microrel.2006.07.010 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Liming Gao; Christian Burmer; Frank Siegelin 出版日期：2006-09-01
求助人	junjun 在 2023-08-30 14:07:02 发布自上海，悬赏 10 积分
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