标题 |
![]() 不同退火气氛对HfO₂/晶体-Si界面钝化机理及性能的影响
相关领域
钝化
退火(玻璃)
薄脆饼
材料科学
形成气体
载流子寿命
分析化学(期刊)
晶体硅
氧化物
硅
薄膜
光电子学
纳米技术
冶金
图层(电子)
化学
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|