A Deep Convolutional Neural Network for Wafer Defect Identification on an Imbalanced Dataset in Semiconductor Manufacturing Processes

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标题	A Deep Convolutional Neural Network for Wafer Defect Identification on an Imbalanced Dataset in Semiconductor Manufacturing Processes
网址	https://doi.org/10.1109/tsm.2020.2994357
DOI	10.1109/tsm.2020.2994357 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者：Muhammad Saqlain; Qasim Abbas; Jong Yun Lee 出版日期：2020-05-13
求助人	F衣衫褴褛在 2026-10-13 15:35:59 发布自江苏，悬赏 10 积分
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