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Avalanche ruggedness and failure mode of SiC trench MOSFETs SiC沟槽MOSFET的雪崩鲁棒性和失效模式
相关领域
沟槽
材料科学
雪崩击穿
单光子雪崩二极管
MOSFET
光电子学
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晶体管
探测器
图层(电子)
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Sebnem Tuncay; Guang Zeng; Giuseppe De Falco; Thomas Basler 出版日期:2023-10-01 |
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