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Defect Engineering in β‐Bi 2 SeO 5 /Bi 2 O 2 Se Heterostructures for High‐Resolution Phototransistor Arrays 用于高分辨率光电晶体管阵列的β-Bi 2 SeO 5/Bi 2 O 2 Se异质结构中的缺陷工程
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期刊:Advanced Materials 作者:Yingjie Zhao; Jiaming Hu; Zhefeng Lou; Lanxin Xu; Wenbin Li; et al 出版日期:2025-11-24 |
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