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 Defect Engineering in β‐Bi 2 SeO 5 /Bi 2 O 2 Se Heterostructures for High‐Resolution Phototransistor Arrays 用于高分辨率光电晶体管阵列的β-Bi 2 SeO 5/Bi 2 O 2 Se异质结构中的缺陷工程
相关领域
材料科学
异质结
光电子学
响应度
光电流
光电二极管
光探测
钝化
光电探测器
制作
载流子
比探测率
微电子
半导体
纳米技术
可见光谱
光电导性
带隙
光电效应
硫系化合物
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期刊：Advanced Materials 作者：Yingjie Zhao; Jiaming Hu; Zhefeng Lou; Lanxin Xu; Wenbin Li; et al 出版日期：2025-11-24 |
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