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Reliable Memory Operation with Low Read Disturb Rate in the World Smallest 1Selector-1MTJ Cell for 64 Gb Cross-Point MRAM |
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期刊:2024 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Hisanori Aikawa; Jeonghwan Song; Toshihiko Nagase; Soo Man Seo; Yuichi Ito; et al 出版日期:2025-02-19 |
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