| 标题 |
Structure-property correlation and resistive switching mechanism of amorphous and partially crystalline Ta2O5 memristors revealed by in-situ XPS and XAS 相关领域
材料科学
无定形固体
X射线吸收光谱法
X射线光电子能谱
透射电子显微镜
光谱学
退火(玻璃)
吸收光谱法
结晶
电阻随机存取存储器
五氧化二钽
硅化物
分析化学(期刊)
结晶学
X射线吸收精细结构
化学物理
钽
衍射
电子衍射
五氧化二铁
傅里叶变换红外光谱
吸收(声学)
热传导
凝聚态物理
超晶格
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)