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  Investigation Into the Degradation of DDR4 DRAM Owing to Total Ionizing Dose Effects 相关领域
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期刊：IEEE Access 作者：Gyeongyeop Lee; Minki Suh; Minsang Ryu; Yun-Jong Lee; Jin‐Woo Han; et al 出版日期：2023-01-01 |
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