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 Advancing Quantitative Failure Analysis and Strain Measurements at the Nanoscale by Using Scanning Electron Diffraction Microscopy Enhanced by Beam Precession 相关领域
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期刊：Proceedings 作者：Tomáš Morávek; Eduardo Serralta; Lukáš Hladík; Narendraraj Chandran; Daniel Němeček; et al 出版日期：2024-10-23 |
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