| 标题 |
 The physical failure analysis (PFA) of I/sub DDQ/ and I/sub DDQ/_delta fail in 90nm logic products 相关领域
浅沟隔离
泄漏（经济）
材料科学
沟槽
硅
光电子学
故障检测与隔离
巴（单位）
电气工程
电子工程
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005. 作者： Sz-Chian Liou; Jung-Hsiang Chuang; J.C. Lee 出版日期：2005 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
科研助手6
昏睡的蟠桃
cdercder
发财暴富财富自由没我快吧嘻嘻嘻
bc
SYLH
iNk
jenningseastera
lin
科研小民工
平常的毛豆
kingwill
ZhouYW
椰子在长江送礼物
nozero
VDC
简单的千凝
back you up
淡然的熊猫
遇上就这样吧
皖公网安备34019202002308
