标题 |
In-plane Optical Anisotropy in ZrTe5 Single Crystal Revealed by Spectroscopic Mueller Ellipsometer
相关领域
单晶
各向异性
椭圆偏振法
材料科学
光学
光电子学
物理
核磁共振
纳米技术
薄膜
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其它 |
期刊:International Photonics and OptoElectronics Meeting 2019 (OFDA, OEDI, ISST, PE, LST, TSA) 作者:Zhengfeng Guo; Honggang Gu; Shiyuan Liu 出版日期:2019 |
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