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  Oxidation of aluminum thin films protected by ultrathin MgF2 layers measured using spectroscopic ellipsometry and X-ray photoelectron spectroscopy 相关领域
材料科学
薄膜
椭圆偏振法
X射线光电子能谱
分析化学（期刊）
光谱学
X射线反射率
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| 其它 |
期刊：OSA Continuum 作者：Brian I. Johnson; Tahereh G. Avval; R. Steven Turley; Matthew R. Linford; David D. Allred 出版日期：2021 |
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小马Pedro
在
2022-01-01 11:19:17 发布，悬赏 10 积分
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