| 标题 |
Accurate Ab Initio Method for Charged Defect Scattering |
| 网址 | |
| DOI |
10.1103/42pc-t2bx
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| 其它 |
期刊:Physical Review Letters 作者:Rongjing Guo; Kwangrae Kim; Zhongcan Xiao; Yuanyue Liu 出版日期:2025-08-25 |
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jiangjiajun
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(2025-6-4)